シリコンの中性子線照射損傷に関する研究

著者

• 徳田, 豊 トクダ, ユタカ

書誌事項

シリコンの中性子線照射損傷に関する研究

徳田豊[著]

[出版者不明], 1979

タイトル読み

シリコン ノ チュウセイシセン ショウシャ ソンショウ ニ カンスル ケンキュウ

注記

博士論文

• NII書誌ID(NCID): BA72225269
• 出版国コード: ja
• タイトル言語コード: jpn
• 本文言語コード: jpn
• 出版地: [出版地不明]
• ページ数/冊数: vi, 170p
• 大きさ: 26cm