The Destructive bond pull test

著者

• Albers, John

書誌事項

The Destructive bond pull test

John Albers, editor

（NBS special publication, 400-18 . Semiconductor measurement technology）

U.S. G.P.O., 1976

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• The destructive bond pull test / John Albers, editor ; Electronic Technology Division.

  1976

  HathiTrust

  

• The destructive bond pull test / John Albers, editor ; Electronic Technology Division. (400-18)

  1976

  HathiTrust

  

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA73256756
• LCCN: 75619425
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Washington
• ページ数/冊数: vi, 44 p.
• 大きさ: 26 cm
• 分類:
  • LCC : QC100
  • LCC : TK3307
  • DC : 602/.1 s
  • DC : 621.8/54/021
• 件名:
  • LCSH : Aluminum wire -- Testing
  • LCSH : Aluminum wire -- Bonding
  • LCSH : Semiconductors -- Bonding
• 親書誌ID:
  • BA0011083X