単一電子トラップ直視技術の開発とそれを用いた極薄ゲート絶縁膜の劣化機構の解明

書誌事項

単一電子トラップ直視技術の開発とそれを用いた極薄ゲート絶縁膜の劣化機構の解明

近藤博基 [ほか著]

[出版者不明], 2005.4

タイトル別名

平成13年度〜平成16年度科学研究費補助金(基盤研究(A)(2))研究成果報告書

タイトル読み

タンイツ デンシ トラップ チョクシ ギジュツ ノ カイハツ ト ソレ オ モチイタ ゴクウス ゲート ゼツエンマク ノ レッカ キコウ ノ カイメイ

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注記

課題番号:13305005

研究分担者: 財満鎭明, 酒井朗 ほか

平成13年度〜平成15年度の研究代表者: 安田幸夫

詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BA73829943
  • 出版国コード
    ja
  • タイトル言語コード
    jpn
  • 本文言語コード
    jpn
  • 出版地
    [出版地不明]
  • ページ数/冊数
    98p
  • 大きさ
    30cm
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