薄膜および極細線疲労試験方法の開発と電子顕微鏡による疲労破壊過程のその場観察

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薄膜および極細線疲労試験方法の開発と電子顕微鏡による疲労破壊過程のその場観察

大谷隆一研究代表

[大谷隆一], 1995.3

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平成6年度科学研究費補助金(試験研究(B)(1))研究成果報告書 : 研究課題番号 05555032

薄膜および極細線疲労試験方法の開発と電子顕微鏡による疲労破壊過程のその場観察

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ハクマク オヨビ ゴクサイセン ヒロウ シケン ホウホウ ノ カイハツ ト デンシ ケンビキョウ ニヨル ヒロウ ハカイ カテイ ノ ソノ バ カンサツ

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京都大学工学部

Details

  • NCID
    BA73999874
  • Country Code
    ja
  • Title Language Code
    jpn
  • Text Language Code
    jpneng
  • Place of Publication
    [京都]
  • Pages/Volumes
    79p
  • Size
    30cm
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