Proceedings : Fortieth Annual Meeting Electron Microscopy Society of America, Washington, D.C., August 9-13, 1982

著者

• Annual Meeting Electron Microscopy Society of America
• Bailey, G. W.
• Electron Microscopy Society of America

書誌事項

Proceedings : Fortieth Annual Meeting Electron Microscopy Society of America, Washington, D.C., August 9-13, 1982

editor, G. W. Bailey

Claitor's Pub. Div., 1982

タイトル別名

Electron Microscopy

注記

Includes bibliographical references and index

• NII書誌ID(NCID): BA7404552X
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Baton Rouge
• ページ数/冊数: 757 p.
• 大きさ: 27 cm