Radiation effects and soft errors in integrated circuits and electronic devices

著者

• Schrimpf, Ronald Donald
• Fleetwood, D. M. (Dan M.)

書誌事項

Radiation effects and soft errors in integrated circuits and electronic devices

editors, R.D. Schrimpf, D.M. Fleetwood

（Selected topics in electronics and systems, v. 34）

World Scientific, c2004

注記

Includes bibliographical references

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA74154638
• ISBN:
  • 9812389407
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: River Edge, N.J.
• ページ数/冊数: viii, 339 p.
• 大きさ: 26 cm
• 親書誌ID:
  • BA26914876