多層構造VLSIのテスティング容易化設計手法の基礎的研究

著者

• 藤岡, 弘 フジオカ, ヒロム

書誌事項

多層構造VLSIのテスティング容易化設計手法の基礎的研究

研究代表者 藤岡弘

[藤岡弘], 2001.4

タイトル別名

平成10年度〜平成12年度科学研究費補助金(基盤研究(B)(2))研究成果報告書

タイトル読み

タソウ コウゾウ VLSI ノ テスティング ヨウイカ セッケイ シュホウ ノ キソテキ ケンキュウ

注記

課題番号: 10450137

参考文献: p94

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA75862269
• 出版国コード: ja
• タイトル言語コード: jpn
• 本文言語コード: jpneng
• 出版地: [吹田]
• ページ数/冊数: iv, 94p
• 大きさ: 30cm