多層構造VLSIのテスティング容易化設計手法の基礎的研究

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多層構造VLSIのテスティング容易化設計手法の基礎的研究

研究代表者 藤岡弘

[藤岡弘], 2001.4

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平成10年度〜平成12年度科学研究費補助金(基盤研究(B)(2))研究成果報告書

Title Transcription

タソウ コウゾウ VLSI ノ テスティング ヨウイカ セッケイ シュホウ ノ キソテキ ケンキュウ

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Note

課題番号: 10450137

参考文献: p94

Details

  • NCID
    BA75862269
  • Country Code
    ja
  • Title Language Code
    jpn
  • Text Language Code
    jpneng
  • Place of Publication
    [吹田]
  • Pages/Volumes
    iv, 94p
  • Size
    30cm
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