電子顕微鏡内その場可視分光測定による半導体欠陥の電子励起運動過程の研究

著者

    • 大野, 裕 オオノ, ユタカ

書誌事項

電子顕微鏡内その場可視分光測定による半導体欠陥の電子励起運動過程の研究

研究代表者 大野裕

[大野裕], 1999.3

タイトル別名

平成9年度〜平成10年度科学研究費補助金(基盤研究(C)(2))研究成果報告書

タイトル読み

デンシ ケンビキョウナイ ソノバ カシ ブンコウ ソクテイ ニヨル ハンドウタイ ケッソン ノ デンシ レイキ ウンドウ カテイ ノ ケンキュウ

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注記

課題番号: 09640395

詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BA76084817
  • 出版国コード
    ja
  • タイトル言語コード
    jpn
  • 本文言語コード
    jpneng
  • 出版地
    [豊中]
  • ページ数/冊数
    1冊
  • 大きさ
    30cm
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