電子顕微鏡内その場可視分光測定による半導体欠陥の電子励起運動過程の研究
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電子顕微鏡内その場可視分光測定による半導体欠陥の電子励起運動過程の研究
[大野裕], 1999.3
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平成9年度〜平成10年度科学研究費補助金(基盤研究(C)(2))研究成果報告書
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デンシ ケンビキョウナイ ソノバ カシ ブンコウ ソクテイ ニヨル ハンドウタイ ケッソン ノ デンシ レイキ ウンドウ カテイ ノ ケンキュウ
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課題番号: 09640395