電子顕微鏡内その場可視分光測定による半導体欠陥の電子励起運動過程の研究

Author(s)

    • 大野, 裕 オオノ, ユタカ

Bibliographic Information

電子顕微鏡内その場可視分光測定による半導体欠陥の電子励起運動過程の研究

研究代表者 大野裕

[大野裕], 1999.3

Other Title

平成9年度〜平成10年度科学研究費補助金(基盤研究(C)(2))研究成果報告書

Title Transcription

デンシ ケンビキョウナイ ソノバ カシ ブンコウ ソクテイ ニヨル ハンドウタイ ケッソン ノ デンシ レイキ ウンドウ カテイ ノ ケンキュウ

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Note

課題番号: 09640395

Details

  • NCID
    BA76084817
  • Country Code
    ja
  • Title Language Code
    jpn
  • Text Language Code
    jpneng
  • Place of Publication
    [豊中]
  • Pages/Volumes
    1冊
  • Size
    30cm
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