Thin film analysis by x-ray scattering

著者

• Birkholz, Mario
• Fewster, Paul F.
• Genzel, Christoph

書誌事項

Thin film analysis by x-ray scattering

Mario Birkholz ; with contributions by Paul F. Fewster, Christoph Genzel

Wiley-VCH, c2006

注記

Includes bibliographical references and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA76127421
• ISBN:
  • 9783527310524
• 出版国コード: gw
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Weinheim
• ページ数/冊数: xxii, 356 p.
• 大きさ: 25 cm
• 分類:
  • SG : 530
• 件名:
  • SWD : Dünne Schicht -- Röntgenstreuung
  • LCSH : Thin films
  • LCSH : X-ray spectroscopy