2005 IEEE International Test Conference (ITC), 8-10 Novermber, 2005, Austin, TX

著者

Institute of Electrical and Electronics Engineers, c2005

愛媛大学図書館研

v. 1549.7||IN||2005(1)0312006024152, v. 2549.7||IN||2005(2)0312006024164

OPAC
拓殖大学八王子図書館

v. 1549.7||2005-1||301400662471, v. 2549.7||2005-2||301400662472

OPAC
千葉大学附属図書館研

v. 15492000600392, v. 25492000600393

OPAC
東京科学大学大岡山図書館

v. 1I10610/37661130939112, v. 2I10610/37661130939120

OPAC
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IEEE Catalog Number: 05CH37661

Includes bibliographical references and index