失敗から学ぶ電子顕微鏡試料作製技法Q&A : 電子顕微鏡研究者のための

著者

• 朝倉, 健太郎 アサクラ, ケンタロウ
• 平坂, 雅男 ヒラサカ, マサオ
• 為我井, 晴子 タメガイ, ハルコ

書誌事項

失敗から学ぶ電子顕微鏡試料作製技法Q&A : 電子顕微鏡研究者のための

朝倉健太郎, 平坂雅男, 為我井晴子共編

アグネ承風社, 2006.5

タイトル別名

電子顕微鏡試料作製技法Q&A : 失敗から学ぶ : 電子顕微鏡研究者のための

タイトル読み

シッパイ カラ マナブ デンシ ケンビキョウ シリョウ サクセイ ギホウ Q&A : デンシ ケンビキョウ ケンキュウシャ ノ タメノ

内容説明・目次

目次

• 基礎
• 試料取り扱い
• 前処理
• 支持膜・レプリカ
• ウルトラミクロトーム（ＵＭＴ）
• 電解研磨
• イオンミリング
• ＦＩＢ（集束イオンビーム装置）
• 観察
• 分析
• 解析
• 付録

「BOOKデータベース」 より

• NII書誌ID(NCID): BA77218089
• ISBN:
  • 4900508756
• 出版国コード: ja
• タイトル言語コード: jpn
• 本文言語コード: jpn
• 出版地: 東京
• ページ数/冊数: vii, 247p
• 大きさ: 26cm
• 分類:
  • NDC8 : 460.72
  • NDC9 : 460.75
• 件名:
  • BSH : 電子顕微鏡
  • BSH : ミクロテクニック