ToF-SIMS : surface analysis by mass spectrometry

著者

• Vickerman, J. C.
• Briggs, D.

書誌事項

ToF-SIMS : surface analysis by mass spectrometry

edited by John C. Vickerman and David Briggs

IM, c2001

注記

Includes bibliographical references and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA78492213
• ISBN:
  • 1901019039
• 出版国コード: uk
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Chichester
• ページ数/冊数: ix, 789 p.
• 大きさ: 26 cm
• 分類:
  • DC21 : 541.33
  • NDC9 : 431.86
• 件名:
  • LCSH : Surfaces (Technology) -- Analysis
  • LCSH : Mass spectrometry