新TOEICテストここで差がつく英文法

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新TOEICテストここで差がつく英文法

山口智子著

成美堂出版, 2006.12

タイトル読み

シン TOEIC テスト ココ デ サ ガ ツク エイブンポウ

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内容説明・目次

内容説明

文法問題の解き方をくわしく伝授。解答スピードを上げる文法まとめと例題。模擬テストで実力をつける。ぎゅっとまとめた30パターンの文法。

目次

  • 1 文法問題はこう解く
  • 2 出題パターン30をつかむ(名詞;代名詞;形容詞(限定用法と叙述用法;数量形容詞);副詞;動詞;時制;不定詞;動名詞 ほか)
  • 3 模擬テストに挑戦

「BOOKデータベース」 より

詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BA80289846
  • ISBN
    • 4415031536
  • 出版国コード
    ja
  • タイトル言語コード
    jpn
  • 本文言語コード
    jpn
  • 出版地
    東京
  • ページ数/冊数
    206p
  • 大きさ
    22cm
  • 分類
  • 件名
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