Semiconductor measurements and instrumentation

著者

• Runyan, W. R.
• Shaffner, T. J.

書誌事項

Semiconductor measurements and instrumentation

W.R. Runyan and T.J. Shaffner

McGraw Hill, c1998

2nd ed

注記

Includes bibliographical references and indexes

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA80639019
• ISBN:
  • 0070576971
• LCCN: 97026081
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: New York
• ページ数/冊数: x, 454 p.
• 大きさ: 24 cm
• 分類:
  • LCC : QC611.24
  • DC21 : 621.3815/2/0287
• 件名:
  • LCSH : Semiconductors
  • LCSH : Physical measurements