Proceedings, forty-third annual meeting Electron Microscopy Society of America, Louisville, Kentucky, 5-9 August 1985

著者

• Annual Meeting Electron Microscopy Society of America
• Bailey, G. W.

書誌事項

Proceedings, forty-third annual meeting Electron Microscopy Society of America, Louisville, Kentucky, 5-9 August 1985

editor, G. W. Bailey

San Francisco Press, 1985

注記

Includes bibliographies and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA80680919
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: San Francisco, Calif.
• ページ数/冊数: xxv, 760 p.
• 大きさ: 27 cm
• 件名:
  • LCSH : Electron microscopy -- Congresses