Targets and backgrounds XII: characterization and representation : 17-18 April 2006, Kissimmee, Florida, USA
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Targets and backgrounds XII: characterization and representation : 17-18 April 2006, Kissimmee, Florida, USA
(Proceedings / SPIE -- the International Society for Optical Engineering, v.6239)
SPIE, c2006
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注記
Includes bibliographical references and index