The uncritical inference test

著者

• Haney, William V.
• International Society for General Semantics

書誌事項

The uncritical inference test

by William V. Haney

International Society for General Semantics, c1983

注記

Publication date of "answer sheet": c1965

• NII書誌ID(NCID): BA81004045
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: San Francisco
• ページ数/冊数: [4] p.
• 大きさ: 28 cm
• 付属資料: answer sheet
• 件名:
  • CSHE : Inference -- Testing