2006 IEEE International Test Conference : Santa Clara, CA, USA, 22-27 October, 2006

著者

Institute of Electrical and Electronics Engineers, c2006

愛媛大学図書館図

v. 1549.7||IN||2006(1)0312007025188, v. 2549.7||IN||2006(2)0312007025190

OPAC
大分大学学術情報拠点(図書館)

v. 1621.38||IN9||2006-111331947, v. 2621.38||IN9||2006-211331948

OPAC
拓殖大学八王子図書館

v. 1549.7||2006-1||301400675205, v. 2549.7||2006-2||301400675206

OPAC
千葉大学附属図書館研

v. 15492000700158, v. 25492000700159

OPAC
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IEEE Catalog Number: 06CH37787

Includes bibliographical references and index