マイクロエレクトロニクスの試験方法および手順

著者

• アメリカ合衆国.国防省 アメリカ ガッシュウコク.コクボウショウ
• アメリカ合衆国.航空宇宙局 アメリカ ガッシュウコク.コウクウ ウチュウキョク
• 電子機械工業会.防衛庁半導体分科会 デンシ キカイ コウギョウカイ.ボウエイチョウ ハンドウタイ ブンカカイ

書誌事項

マイクロエレクトロニクスの試験方法および手順

米国国防省,米航空宇宙局 [編] ; 電子機械工業会防衛庁半導体分科会翻訳グループ訳

日本規格協会, 1972.2

タイトル読み

マイクロ エレクトロニクス ノ シケン ホウホウ オヨビ テジュン

注記

アメリカ軍規格MIL-STD-883

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA81923572
• 出版国コード: ja
• タイトル言語コード: jpn
• 本文言語コード: jpn
• 出版地: 東京
• ページ数/冊数: 206p
• 大きさ: 21cm
• 分類:
  • NDC6 : 549
  • NDLC : M361
  • NDLC : ND386
• 件名:
  • NDLSH : マイクロエレクトロニクス