Side by side : testing program

書誌事項

Side by side : testing program

Steven J. Molinsky, Bill Bliss

Longman, c2003

3rd ed

  • 1

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詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BA83212906
  • ISBN
    • 013026752X
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    [New York]
  • ページ数/冊数
    1 v.
  • 大きさ
    28 cm
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