XPS-SIMSによる固体の表面層内化学種の状態別定量分析に関する研究

著者

• 永山, 政一 ナガヤマ, マサイチ

書誌事項

XPS-SIMSによる固体の表面層内化学種の状態別定量分析に関する研究

研究代表者 永山政一

（科学研究費補助金(一般研究(B))研究成果報告書, 昭和55年度）

[北海道大学工学部], [1980]

タイトル読み

XPS-SIMS ニヨル コタイ ノ ヒョウメンソウナイ カガクシュ ノ ジョウタイベツ テイリョウ ブンセキ ニカンスル ケンキュウ

注記

課題番号: 447052

• NII書誌ID(NCID): BA83313787
• 出版国コード: ja
• タイトル言語コード: jpn
• 本文言語コード: jpneng
• 出版地: [札幌]
• ページ数/冊数: 1冊
• 大きさ: 26-30cm
• 親書誌ID:
  • BN0345591X