Bibliographic Information

新・直前に解く!TOEIC TEST模擬試験集

浅見ベートーベン著

(Asuka business & language books, . CD book)

明日香出版社, 2007.5

Title Transcription

シン チョクゼン ニ トク TOEIC test モギ シケンシュウ

Available at  / 8 libraries

Note

付属資料: 録音ディスク(2枚 ; 12cm)

Description and Table of Contents

Description

はじめて受ける人やTOEICに慣れていない人がぶっつけ本番で解くのと、直前に模擬問題を解いて「スピードと問題量」に慣れておくのとでは、スコアが100〜150点違います。新しくなったパート3,6,7にもがっちり対応!新TOEIC対策のテクニックも盛り込んであります。有名企業の英語研修を長年担当、たくさんの受講生に目標スコアを獲得させてきた実績のある著者だから書ける「攻略のテクニック」付き。

Table of Contents

  • 第1回 TOEIC TEST模擬試験
  • 第2回 TOEIC TEST模擬試験
  • 巻末付録 攻略のテクニック

by "BOOK database"

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Details

  • NCID
    BA83396795
  • ISBN
    • 9784756910851
  • Country Code
    ja
  • Title Language Code
    jpn
  • Text Language Code
    jpn
  • Place of Publication
    東京
  • Pages/Volumes
    435p
  • Size
    21cm
  • Classification
  • Subject Headings
  • Parent Bibliography ID
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