CCD image sensors in deep-ultraviolet : degradation behavior and damage mechanisms

著者

    • Li, F. M. (Flora M.)
    • Nathan, Arokia

書誌事項

CCD image sensors in deep-ultraviolet : degradation behavior and damage mechanisms

F.M. Li, A. Nathan

（Microtechnology and MEMS）

Springer, 2005

大学図書館所蔵 件 / 全1件

この図書・雑誌をさがす

注記

Includes bibliographical references and index

HTTP:URL=http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0663/2004116223-d.html Information=Publisher description

関連文献： 1件中  1-1を表示

詳細情報

ページトップへ