CCD image sensors in deep-ultraviolet : degradation behavior and damage mechanisms

著者

• Li, F. M. (Flora M.)
• Nathan, Arokia

書誌事項

CCD image sensors in deep-ultraviolet : degradation behavior and damage mechanisms

F.M. Li, A. Nathan

（Microtechnology and MEMS）

Springer, 2005

注記

Includes bibliographical references and index

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• NII書誌ID(NCID): BA84468122
• ISBN:
  • 354022680X
• LCCN: 2004116223
• 出版国コード: gw
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Berlin ; New York
• ページ数/冊数: xi, 231 p.
• 大きさ: 25 cm
• 分類:
  • LCC : TA1637
  • DC22 : 621.36/4
• 件名:
  • LCSH : Image processing -- Digital techniques
  • LCSH : Remote sensing
  • LCSH : Service life (Engineering)
  • LCSH : Charge coupled devices
• 親書誌ID:
  • BA51409718