Electronic component testing

著者

• Waller, William F.

書誌事項

Electronic component testing

edited by W.F. Waller

（Electronic engineering series）（Macmillan engineering evaluations）（Macmillan student editions）

Macmillan, 1972

注記

Includes bibliographies

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA85630882
• ISBN:
  • 0333137914
• LCCN: 75306992
• 出版国コード: uk
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: London
• ページ数/冊数: 91 p.
• 大きさ: 30 cm
• 分類:
  • LCC : TK7870
  • DC : 621.3815/1
• 件名:
  • LCSH : Electronic apparatus and appliances -- Testing
  • LCSH : Semiconductors -- Testing
  • LCSH : Integrated circuits -- Testing
• 親書誌ID:
  • BA74414728
  • BA14082710
  • BA01042961