組み合わせ論理回路のソフトエラー評価を可能とするLSIテスト技術

Author(s)

• 小林, 大輔 (半導体工学) コバヤシ, ダイスケ

Bibliographic Information

組み合わせ論理回路のソフトエラー評価を可能とするLSIテスト技術

研究代表者 小林大輔

（科学研究費補助金(基盤研究C)研究成果報告書, 平成18年度-平成19年度）

[小林大輔], 2008.3

Title Transcription

クミアワセ ロンリ カイロ ノ ソフトエラー ヒョウカ オ カノウトスル LSI テスト ギジュツ

Note

課題番号18560359

研究分担者:廣瀬和之、斎藤宏文

• NCID: BA85996239
• Country Code: ja
• Title Language Code: jpn
• Text Language Code: engjpn
• Place of Publication: [相模原]
• Pages/Volumes: 77 p.
• Size: 30 cm
• Parent Bibliography ID:
  • BA30764121