組み合わせ論理回路のソフトエラー評価を可能とするLSIテスト技術

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組み合わせ論理回路のソフトエラー評価を可能とするLSIテスト技術

研究代表者 小林大輔

（科学研究費補助金(基盤研究C)研究成果報告書, 平成18年度-平成19年度）

[小林大輔], 2008.3

Title Transcription

クミアワセ ロンリ カイロ ノ ソフトエラー ヒョウカ オ カノウトスル LSI テスト ギジュツ

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Note

課題番号18560359

研究分担者:廣瀬和之、斎藤宏文

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Details

  • NCID
    BA85996239
  • Country Code
    ja
  • Title Language Code
    jpn
  • Text Language Code
    engjpn
  • Place of Publication
    [相模原]
  • Pages/Volumes
    77 p.
  • Size
    30 cm
  • Parent Bibliography ID
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