高精度密度測定による半導体融体の局所構造変化と濃度揺らぎの研究

著者

• 土屋, 良海 ツチヤ, ヨシミ

書誌事項

高精度密度測定による半導体融体の局所構造変化と濃度揺らぎの研究

研究代表者 土屋良海

（日本学術振興会科学研究費補助金基盤研究C研究成果報告書, 平成16-18年度）

[土屋良海], 2007.3

タイトル読み

コウセイド ミツド ソクテイ ニヨル ハンドウタイ ユウタイ ノ キョクショ コウゾウ ヘンカ ト ノウド ユラギ ノ ケンキュウ

注記

課題番号: 16560577

主に英語

• NII書誌ID(NCID): BA86539276
• 出版国コード: ja
• タイトル言語コード: jpn
• 本文言語コード: engjpn
• 出版地: [新潟]
• ページ数/冊数: ii, 50p
• 大きさ: 30cm
• 親書誌ID:
  • BA7157520X