高精度密度測定による半導体融体の局所構造変化と濃度揺らぎの研究

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高精度密度測定による半導体融体の局所構造変化と濃度揺らぎの研究

研究代表者 土屋良海

（日本学術振興会科学研究費補助金基盤研究C研究成果報告書, 平成16-18年度）

[土屋良海], 2007.3

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コウセイド ミツド ソクテイ ニヨル ハンドウタイ ユウタイ ノ キョクショ コウゾウ ヘンカ ト ノウド ユラギ ノ ケンキュウ

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課題番号: 16560577

主に英語

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Details

  • NCID
    BA86539276
  • Country Code
    ja
  • Title Language Code
    jpn
  • Text Language Code
    engjpn
  • Place of Publication
    [新潟]
  • Pages/Volumes
    ii, 50p
  • Size
    30cm
  • Parent Bibliography ID
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