Derivation of optimum tests to detect faults in combinational circuits
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Derivation of optimum tests to detect faults in combinational circuits
（Technical report / Digital Systems Laboratory, no. 18）
Princeton University, 1962
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注記
"March 1962"
"This work was performed while the author held a Bell Telephone Laboratories Employee Fellowship at Princeton University"
Includes bibliographical references (p. 38-39)
