新TOEICテスト一発で正解がわかる英単語600点・730点

著者

• キム, デギュン キム, デギュン

書誌事項

新TOEICテスト一発で正解がわかる英単語600点・730点

キム・デギュン著

旺文社, [2008.6]

タイトル読み

シン TOEIC テスト イッパツ デ セイカイ ガ ワカル エイタンゴ 600テン 730テン

注記

出版地, 出版日付はジャケットによる

内容説明・目次

内容説明

連続１００回以上ＴＯＥＩＣを受け続けてきたからこそ選べる本当に“でる”英単語。目標スコアに応じて覚える部分をチョイスできる。付属ＣＤと暗記シートで、学習をバックアップ。

目次

• ６００点レベル
• ７３０点レベル

「BOOKデータベース」 より

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA86877406
• ISBN:
  • 9784010940907
• 出版国コード: ja
• タイトル言語コード: jpn
• 本文言語コード: jpneng
• 出版地: [東京]
• ページ数/冊数: 207p
• 大きさ: 19cm
• 付属資料: 録音ディスク (1枚 ; 12cm)
• 分類:
  • NDC8 : 830.79
  • NDC9 : 830.79
• 件名:
  • BSH : 英語