Annual Reliability and Maintainability Symposium, 2008 proceedings : the International Symposium on Product Quality and Integrity, Las Vegas, Nevada, USA on January 28-31, 2008
著者
書誌事項
Annual Reliability and Maintainability Symposium, 2008 proceedings : the International Symposium on Product Quality and Integrity, Las Vegas, Nevada, USA on January 28-31, 2008
Institute of Electrical and Electronics Engineers, c2008
機械可読データファイル
大学図書館所蔵 件 / 全1件
-
該当する所蔵館はありません
- すべての絞り込み条件を解除する
注記
"IEEE catalog number: 08CH37927C"--T. p. verso