走査プローブ顕微鏡による表面ポテンシャル分布の高精度測定

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走査プローブ顕微鏡による表面ポテンシャル分布の高精度測定

研究代表者長谷川幸雄

長谷川幸雄, 2008.6

Other Title

平成17年度〜平成18年度科学研究費補助金(基盤研究(B))研究成果報告書

文部科学省科学研究費補助金(基盤研究(B))研究成果報告書

Title Transcription

ソウサ プローブ ケンビキョウ ニヨル ヒョウメン ポテンシャル ブンプ ノ コウセイド ソクテイ

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Note

研究分担者:浜田雅之

課題番号:17360018

研究代表者の所属:東京大学物性研究所

Details

  • NCID
    BA88056896
  • Country Code
    ja
  • Title Language Code
    jpn
  • Text Language Code
    engjpn
  • Place of Publication
    [東京]
  • Pages/Volumes
    69p
  • Size
    30cm
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