走査プローブ顕微鏡による表面ポテンシャル分布の高精度測定

著者

• 長谷川, 幸雄 ハセガワ, ユキオ
• 浜田, 雅之 ハマダ, マサユキ

書誌事項

走査プローブ顕微鏡による表面ポテンシャル分布の高精度測定

研究代表者長谷川幸雄

長谷川幸雄, 2008.6

タイトル別名

平成17年度〜平成18年度科学研究費補助金(基盤研究(B))研究成果報告書

文部科学省科学研究費補助金(基盤研究(B))研究成果報告書

タイトル読み

ソウサ プローブ ケンビキョウ ニヨル ヒョウメン ポテンシャル ブンプ ノ コウセイド ソクテイ

注記

研究分担者:浜田雅之

課題番号:17360018

研究代表者の所属:東京大学物性研究所

• NII書誌ID(NCID): BA88056896
• 出版国コード: ja
• タイトル言語コード: jpn
• 本文言語コード: engjpn
• 出版地: [東京]
• ページ数/冊数: 69p
• 大きさ: 30cm