走査プローブ顕微鏡による表面ポテンシャル分布の高精度測定
著者
書誌事項
走査プローブ顕微鏡による表面ポテンシャル分布の高精度測定
長谷川幸雄, 2008.6
- タイトル別名
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平成17年度〜平成18年度科学研究費補助金(基盤研究(B))研究成果報告書
文部科学省科学研究費補助金(基盤研究(B))研究成果報告書
- タイトル読み
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ソウサ プローブ ケンビキョウ ニヨル ヒョウメン ポテンシャル ブンプ ノ コウセイド ソクテイ
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注記
研究分担者:浜田雅之
課題番号:17360018
研究代表者の所属:東京大学物性研究所
