新TOEICテスト一発で正解がわかる問題集
著者
書誌事項
新TOEICテスト一発で正解がわかる問題集
旺文社, 2008.6
- 文法・語彙・リーディング
- リスニング
- タイトル読み
-
シン TOEIC テスト イッパツ デ セイカイ ガ ワカル モンダイシュウ
大学図書館所蔵 件 / 全21件
-
該当する所蔵館はありません
- すべての絞り込み条件を解除する
この図書・雑誌をさがす
内容説明・目次
- 巻冊次
-
リスニング ISBN 9784010940884
内容説明
新ＴＯＥＩＣテストを知りつくしたキム・デギュンが実戦に役立つ問題を自信をもって提供。各ＰＡＲＴを設問パターンによって分析。設問パターン別の戦略を解説。ＰＡＲＴごとの練習問題と模擬テストで実力養成。
目次
- １ 写真描写問題（人物１人が登場する問題；２人以上の人物が登場する問題 ほか）
- ２ 応答問題（疑問詞のある疑問文；一般疑問文 ほか）
- ３ 会話問題（大意を問う問題；細部の情報を問う問題 ほか）
- ４ 説明文問題（大意を問う問題；細部の情報を問う問題 ほか）
- 模擬テスト（問題；解答解説）
- 巻冊次
-
文法・語彙・リーディング ISBN 9784010940891
内容説明
新ＴＯＥＩＣテストを知りつくしたキム・デギュンが実戦に役立つ問題を自信をもって提供。各ＰＡＲＴを設問パターンによって分析。設問パターン別の戦略を解説。ＰＡＲＴごとの練習問題と模擬テストで実力養成。
目次
- ５ 短文穴埋め問題（語彙／語句を問う問題；品詞／語形を問う問題；文法を問う問題１・動詞；文法を問う問題２・接続詞／前置詞／副詞）
- ６ 長文穴埋め問題（設問パターン分析；問題文のジャンル分析）
- ７ 読解問題（設問パターン分析；問題分析１・Ｓｉｎｇｌｅ ｐａｓｓａｇｅ問題；問題分析２・Ｄｏｕｂｌｅ ｐａｓｓａｇｅ問題）
- 模擬テスト（問題；解答解説）
「BOOKデータベース」 より
