Quantum mechanical effects on mosfet scaling limit : challenges and opportunies for nanoscale CMOS

著者

    • Wang, Lihui

書誌事項

Quantum mechanical effects on mosfet scaling limit : challenges and opportunies for nanoscale CMOS

Lihui Wang

VDM Verlag Dr. Müller, c2009

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詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BA90823014
  • ISBN
    • 9783836461832
  • 出版国コード
    gw
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    Saarbrücken
  • ページ数/冊数
    xii, 175 p.
  • 大きさ
    23 cm
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