Annual Reliability and Maintainability Symposium, 2009 proceedings : the International Symposium on Product Quality and Integrity, Fort Worth, Texas, USA on January 26-29, 2009

著者

    • Reliability and Maintainability Symposium

書誌事項

Annual Reliability and Maintainability Symposium, 2009 proceedings : the International Symposium on Product Quality and Integrity, Fort Worth, Texas, USA on January 26-29, 2009

Institute of Electrical and Electronics Engineers, c2009

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注記

"IEEE catalog number: CFP09RAM-CDR"--T. p. verso

詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BA90952516
  • ISBN
    • 9781424425099
  • LCCN
    78132873
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    Piscataway, NJ
  • ページ数/冊数
    1 CD-ROM
  • 大きさ
    12 cm
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