信頼性試験と故障解析入門 : 電気製品事故の原因究明へ

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信頼性試験と故障解析入門 : 電気製品事故の原因究明へ

井原惇行, 小林吉一著

日刊工業新聞社, 2010.3

タイトル読み

シンライセイ シケン ト コショウ カイセキ ニュウモン : デンキ セイヒン ジコ ノ ゲンイン キュウメイ エ

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内容説明・目次

目次

  • 1章 電気製品における事故の実態
  • 2章 電気製品事故はなぜ、起こるのか
  • 3章 事故原因究明の進め方
  • 4章 原因究明に役立つ故障解析技術
  • 5章 原因究明に役立つ信頼性試験と最新試験機器
  • 6章 HALT試験の実際と試験・解析技術
  • 7章 ライフエンド製品設計の基本技術

「BOOKデータベース」 より

詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BB01901554
  • ISBN
    • 9784526064401
  • 出版国コード
    ja
  • タイトル言語コード
    jpn
  • 本文言語コード
    jpn
  • 出版地
    東京
  • ページ数/冊数
    viii, 198p
  • 大きさ
    21cm
  • 分類
  • 件名
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