書誌事項

Pattern recognition

[by Laveen N. Kanal, Ashok K. Agrawala]

National Technical Information Service, U.S. Dept. of Commerce, [1973]

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注記

Facsim. reprint. Originally published: [College Park, Md.] : [Computer Science Center, University of Maryland], [1973]. (Technical report ; TR-264))

"AD-778 940"

"Prefared for Air Force Office of Scientific Research"

"October 1973"

"AFOSR 71-1982"--Original t.p

詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BB0227771X
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    Springfield, Va.
  • ページ数/冊数
    [37] leaves
  • 大きさ
    28 cm
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