Sapporo 2010 : The 12th international scanning probe microscopy conference : final program and abstracts

著者

• 東京大学生産技術研究所 トウキョウ ダイガク セイサン ギジュツ ケンキュウジョ

書誌事項

Sapporo 2010 : The 12th international scanning probe microscopy conference : final program and abstracts

（Seiken Symposium, 63）

[The University of Tokyo, Institute of Industrial Science], [2010]

注記

Keio Plaza Hotel Sapporo, Sapporo, Hokkaido, Japan May 10-12, 2010

Sapporo 2010 cosponsored by Institute of Industrial Science, The University of Tokyo , Foundation Advanced Technology Institute

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BB02505880
• 出版国コード: ja
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: [Tokyo]
• ページ数/冊数: xviii, 108, viii p.
• 大きさ: 30 cm
• 親書誌ID:
  • BA10169023