LEEM/PEEMを用いた表面研究の新しい展開 : ナノテクノロジー総合支援プロジェクトワークショップ : PF研究会

Author(s)

• 越川, 孝範 コシカワ, タカノリ

Bibliographic Information

LEEM/PEEMを用いた表面研究の新しい展開 : ナノテクノロジー総合支援プロジェクトワークショップ : PF研究会

越川孝範 [ほか編]

（KEK proceedings, 2007-15）

High Energy Accelerator Research Organization, 2008.2

Other Title

Progresses in low energy electron microsopy and photoemission electron microscopy studies (LEEM & PEEM)

Title Transcription

LEEM PEEM オ モチイタ ヒョウメン ケンキュウ ノ アタラシイ テンカイ : ナノテクノロジー ソウゴウ シエン プロジェクト ワークショップ : PF ケンキュウカイ

Note

その他の編者: 安江常夫,小林啓介,木下豊彦,小野寛太

会期・会場:平成17年10月12日-13日 高エネルギー加速器研究機構

• NCID: BB02570259
• Country Code: ja
• Title Language Code: jpn
• Text Language Code: jpneng
• Place of Publication: Tsukuba
• Pages/Volumes: 29p
• Size: 30cm
• Classification:
  • NDC9 : 428.4
  • NDLC : MC141
• Subject Headings:
  • NDLSH : 表面(物理学)
  • NDLSH : 電子顕微鏡
• Parent Bibliography ID:
  • BA13667297