Hybrid microcircuit reliability data

著者

• IIT Research Institute
• Rome Air Development Center. Reliability Analysis Center

書誌事項

Hybrid microcircuit reliability data

prepared by IIT Research Institute ; [Reliability Analysis Center, Rome Air Development Center]

Pergamon Press, c1976

注記

"First edition 1975 ; reprinted 1976"--T.p. verso

• NII書誌ID(NCID): BB03095263
• ISBN:
  • 0080205356
• LCCN: 75029637
• 出版国コード: uk
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Oxford ; New York
• ページ数/冊数: 208 p.
• 大きさ: 27 cm
• 分類:
  • LCC : TK7874
• 件名:
  • LCSH : Hybrid integrated circuits -- Reliability
  • FREE : Datensammlung. swd
  • FREE : Hybridschaltung. swd