Electronic thin-film reliability
King-Ning Tu
Cambridge University Press, 2011
大阪電気通信大学 図書館
: hbk./549.8/E405953
OPAC
東京大学 物性研究所 図書室図書室
: hbk.428.7:E57210319278
東京農工大学 小金井図書館
: hbk.549.860736653
弘前大学 附属図書館本館
: hbk.549.8||Tu108146213