2010 IEEE International Test Conference (ITC 2010) : Austin, Texas, USA, 2-4 November 2010

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2010 IEEE International Test Conference (ITC 2010) : Austin, Texas, USA, 2-4 November 2010

IEEE, c2010

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注記

IEEE Catalog Number: CFP10ITC-PRT

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詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BB05126018
  • ISBN
    • 9781424472062
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    Piscataway, N.J.
  • ページ数/冊数
    831 p.
  • 大きさ
    27 cm
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