Electromigration in ULSI interconnections

著者

• Tan, Cher Ming

書誌事項

Electromigration in ULSI interconnections

Cher Ming Tan

（International series on advances in solid state electronics and technology / founding editor: Chih-Tang Sah）

World Scientific, c2010

注記

Includes bibliographical references and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BB05155810
• ISBN:
  • 9789814273329
• 出版国コード: si
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Singapore
• ページ数/冊数: xix, 291 p.
• 大きさ: 24 cm
• 親書誌ID:
  • BA24779281