Extreme statistics in nanoscale memory design

著者

    • Singhee, Amith
    • Rutenbar, Rob A.

書誌事項

Extreme statistics in nanoscale memory design

Amith Singhee, Rob A. Rutenbar, editors

(Series on Integrated Circuits and Systems)

Springer, c2010

  • hbk.

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注記

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詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BB05162587
  • ISBN
    • 9781441966056
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    New York
  • ページ数/冊数
    ix, 246 p.
  • 大きさ
    25 cm
  • 親書誌ID
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