2010 IEEE Instrumentation & Measurement Technology Conference : (I2MTC 2010) : Austin, Texas, USA, 3-6 May 2010

著者

• IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference

書誌事項

2010 IEEE Instrumentation & Measurement Technology Conference : (I2MTC 2010) : Austin, Texas, USA, 3-6 May 2010

IEEE, c2010

• p. 1-814
• p. 815-1627

タイトル別名

I2MTC 2010

CFP10IMT-PRT

注記

"IEEE catalog number: CFP10IMT-PRT"

Includes bibliographical references and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BB06858270
• ISBN:
  • 9781424428328
  • 9781424428328
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Piscataway, N.J.
• ページ数/冊数: 2 v.
• 大きさ: 27 cm